仪器简介：
飞行时间二次离子质谱（TOF-SIMS)是一种非常灵敏的表面分析技术。可以广泛应用于物理，化学，微电子，生物，制药，空间分析等工业和研究方面。TOF-SIMS可以提供表面，薄膜，界面以至于三维样品的元素，分子等结构信息。

技术参数：
. 并行探测所有离子，包括有机和无机分子碎片。
. 无限的质量探测范围（实际测量中大于1000m/z 原子量单位）。
. *透过率下实现高的质量分辨率。
. 高的横向和纵向空间分辨率（横向小于100纳米，纵向小于1纳米）。
. 探测灵敏度可达ppm或ppb量级。
. 质量探测分辨率(M/ΔM) >1000
. 质量探测准确度 ≥20 milli 质量单位
. 反射性分析器
. 5 分钟样品腔真空度可从大气环境达到真空工作环境

主要特点：
.  超高的表面灵敏度(1x109 atoms/cm2)
·  操作简单(? day training)
· 1 分钟分析，样品处理流程 <7分钟
· 导体和绝缘体表面均可测试
· 可得到元素和分子信息
· 从元素中分离出普通有机物
· 正电和负电的 二次离子质谱
· 同位素分析
· 分析面积 ~0.5 mm
·  溅射预清洗表面
· 提供材料数据库

专业科研型



MS-1000 简易型，专业用于表面分析

• MS-1000 台式型，用于固体表面分子结构定性分析

• MS-1000 是飞行时间二次离子质谱，属于静态模式的SIMS，对于样品表面的分子非常敏感

• MS-1000 相比其它SIMS，比较便宜，性能价格比高，方便使用，15分钟可以得到样品表面信息。

• MS-1000专业设计用于质量控制和错误诊断，生产时的指标监测，以及其它表面分析手段做不到的领域.

• 质谱分析仪和离子枪设计成一体，使得MS-1000 成为最小的静态二次离子质谱!

MS-1000应用领域包括:

• 分析涂层中的胶黏剂以及复合材料

• 半导体制备中的污染，药物生产的准备和环境监测

• 生物体兼容性测试

• 快速检测等离子体对样品表面的处理和改性

• 涂料中预处理的有机粘合剂分析