超高真空开尔文探针-材料表征

开尔文探针是一种非接触、非破坏性振动电容装置用于导电材料的功函或半导体或绝缘体材料表面的表面电势，表面功函由材料表面最顶部的1-3层原子或分子决定，因而开尔文探针是一种非常灵敏的表面分析技术，KP Technology公司目前可提供具有1-3 meV业界最高分辨率的测试系统。
UHV-KP020 是超高真空室的一个*补充工具，可靠的和可重复的可轻松获得，包括高质量的线性解码器，使得探针和样品的定位变得简单， 的跟踪系统在测试过程中始终将探针和样品恒定的分开。对于薄膜研究，亚单层范围检测是很平常的；也可选购SPV020或SPS030表面光电压模块用于光敏材料研究。

超高真空开尔文探针-材料表征

技术参数：
● 功函分辨率1-3meV（2-10mm探针）
● 用户自定针尺寸（2-10mm）
● 用户自定探针长度（法兰到样品）
● DN40（2.75''安装端口）-其他可选
● 50mm手动平移器（100mm可选）
● 真空度2X10-11mbar
● 跟踪系统自动控制样品和探针距离
● 过零信号检测系统抑制寄生电容
选件：
● 电动平移器
● UHVSKP
● UHVSKP
● 表面光电压模块SPV020和SPS030

我司在华南理工大学完成的UHVSKP超高真空开尔文探针已经顺利通过该校验收。各项性能均达到设计需求。